Сканирующие зондовые микроскопы
Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, SPM ) — сканирующие микроскопы для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. Микроскоп позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением. Работа сканирующего зондового микроскопа основана на взаимодействии поверхности образца с зондом (кантилевер, игла или оптический зонд). При малом расстоянии между поверхностью и зондом действие сил взаимодействия (отталкивания, притяжения, и других сил) и проявление различных эффектов (например, туннелирование электронов) можно зафиксировать с помощью современных средств регистрации. Для регистрации используют различные типы сенсоров, чувствительность которых позволяет зафиксировать малые по величине возмущения. Для получения полноценного растрового изображения используют различные устройства развертки по осям X и Y (например, пьезотрубки, плоскопараллельные сканеры).
QScan P100 |
QScan Plus/Pro P300 |