Популярные микроскопы
Оптические микроскопы
Электронные микроскопы
Зондовые микроскопы
Лазерные микроскопы
Оптические микроскопы
Электронные микроскопы
Зондовые микроскопы
Лазерные микроскопы
Электронные микроскопы
Основа сканирующего электронного микроскопа — электронная пушка и электронная колонна, функция которой состоит в формировании остросфокусированного электронного зонда средних энергий (200 эВ — 50 кэВ) на поверхности образца. В РЭМ есть предметный столик, позволяющий перемещать образец минимум в 5 направлениях. При взаимодействии электронов с объектом возникают несколько видов сигналов, каждый из которых улавливается специальным детектором. Соответственно, изображения, продуцируемые микроскопом, могут быть построены с использованием различных сигналов: изображение во вторичных электронах, изображение в отраженных электронах, рентгеновское изображение. Разрешающая способность электронного микроскопа в 1000—10000 раз превосходит разрешение традиционного светового микроскопа и для лучших современных приборов может быть меньше одного ангстрема. Для получения изображения в электронном микроскопе используются специальные магнитные линзы, управляющие движением электронов в колонне прибора при помощи магнитного поля.
 EM-30AX |
 EM-20 |
|
EM-30 |
 CX-200TM |
|
CX-200TA |