Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

















Популярные микроскопы









     Оптические микроскопы


     Электронные микроскопы









     Зондовые микроскопы


     Лазерные микроскопы

Атомно силовой зондовый микроскоп QScan P100/P150

Атомно силовой зондовый  микроскоп P100/P150

Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 мкм на 15 мкм. Наш уникальный астигматический оптический дизайн работает с небольшим 0,56 мкм лазерным пятном, позволяет пользователям экспериментировать с более мелкими и быстрыми консолями АСМ. В комплекте с сканирующим микроскопом P100 / P150 используется наше интуитивно понятное управляющее программное обеспечение PSX, которая позволяет пользователю проводить эксперименты с минимальным уровнем подготовки. Наша программа позволяет проводить сканированик в один клик, что автоматизирует процесс настройки и проверки, что в свою очередь позволяет пользователям быстро получать качественные результаты сканирования. Встроенная функция управления библиотекой сканированных данных упрощает работу с ними и позволяет пользователю легко оперировать массивами значений.

Атомно силовой микроскоп P100/P150

Основные Характеристики

  • Разрешение по оси Z - 0.12 нм
  • Размер пятна лазера - 0.56 мкм
  • Разомкнутый контур сканирования диапазона - 15 мкм х 15 мкм
  • Самонастраиваемая выровненная оптическая конструкция - Лазер и детектор не требуют выравнивания
  • Быстрая установка и простота использования - из коробки, система занимает всего несколько минут, чтобы настроить и начать сканировать.
  • Многоязычность (Английский/Китайский/Японский/Корейский/Испанский/Немецкий/Русский языки)
  • Сканирование одним нажатием кнопки - автоматическая настройка,приближение к поверхности, калибровка и сканирование образца в один клик, с использованием интеллектуальных алгоритмов прогнозирования
  • Простота загрузки образца в камеру

Астигматическая Система Детекторов

Большинство традиционных сканирующих зондовых микроскопов основаны на теории отклонении электронного луча в оптической конструкции. Лазерное пятно перемещается вверх и вниз фотодиод D + A, указывающий на верхнее положение , C + B указывая в нижнее положение. Наша астигматическая оптическая конструкция не двигатеся вдоль фотодиодов, но вместо этого изменяет форму для указания вверхнего и нижнего положения. В результате реализации данного подхода к оптическому дизайну лазер и детектор постоянно самовыравниваются.



PSX AFM программное обеспечение

Интуитивно Понятный Пользовательский Интерфейс

Простой пользовательский интерфейс логики позволяет пользователям, чтобы начать сканирование с минимальной подготовкой. Советы и предупреждения руководства пользователей и рекомендует, какие параметры установить для оптимального сканирования состоянии.

Непрерывное усовершенствование и обновление программного обеспечения

Все пользователи имеют доступ к последней версии нашего программного обеспечения, независимо от гарантии. Мы считаем, что разработка программного обеспечения-это непрерывный процесс. Обратную связь мы получаем от нашего сообщества в обновлении программного обеспечения, что позволяет получать опыт, чтобы продолжать становиться лучше.

Функция сканирования одним нажатием кнопки

Функция сканирование одним нажатием кнопки использует интеллектуальные алгоритмы прогнозирования, чтобы помочь пользователю автоматизировать процесс сканирования. После выравнивания зонда, программа позаботится обо всем, включая тюнинг, взаимодействие с образцом, калибровку силовой кривой, и настройку сканирования.

Управление библиотеками и экспорт данных

Все сканы каталогизированы в программном обеспечении в библиотеки с меткой даты и параметров сканирования. Пользователи могут отмечать избранное, удалять ненужные сканы, проводить сканирование и экспортировать в другие аналитические инструменты.

Технические Характеристики

Система
Режим сканирования Полуконтактный метод
Z-Approach Моторизованый
Выравнивание наконечника Автоматически
Частота привода наконечника 20-500 KHz
X-Y диапазон сканирования 15 µm x 15 µm (open-loop)
Z диапазон сканирования 8 µm (open-loop)
X-Y Разрешение 0.23 nm (разрешение привода)
Z Разррешение 0.12 nm (разрешение привода)
Вращение 0 - 359
Максимальная скорость сканирования 4 Hz
Размер образца - P100 (Max.) 10 мм х 10 мм х 3 мм
Размер образца - P150 (Max.) 30 мм х 30 мм х 10 мм
Вес образца (Max.) 10 грам
Общие размеры - P100 12.1 cm X 12.1 cm X 11.0 cm
Общие размеры - P150 34.0 cm X 22.0 cm X 22.0 cm
Электроника
Сигнал сканирующего привода ± 10В нет высоких напряжений
Разрешение 16-bit
Данные точек сканирования 128-1024
Программное обеспечение
Данные изображения Топография, фаза, амплитуда, 3D
Измерения X-Z линейный профиль, Y-Z линейный профиль, Уплощение в реальном времени
Оптика - P150
Large-field 2.5D CCD FOV 150 мм x 150 мм
Small-field 2D CCD FOV 200 µm x 200 µm

Галерея

Сапфировая подложка Графен


Тонкая пленка Кремниевая пластина HOPG TGQ1

Поиск

Контакты

Тел/факс: +7 (499) 393-38-60
Адрес: 107114, Москва, Сокольническая пл, 4А
Email: info@microscop.su