Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

















Популярные микроскопы









     Оптические микроскопы


     Электронные микроскопы









     Зондовые микроскопы


     Лазерные микроскопы

Металлографический микроскоп XJL-302

Металлографический  микроскоп XJL-302

XJL-302 серия вертикальных металлургических микроскопов подходит для наблюдения поверхностей непрозрачных объектов или прозрачных объектов. Они оснащены отличной оптической системы UIS и модульным функциональным дизайном, предоставляя пользователям отличное качество оптики и эксплуатационных характеристик, возможность обновления системы, наблюдения в отраженном или проходящем и смешанном освещениях, поляризационные наблюдения, темно полевые наблюдени. Компактный и устойчивый корпус микроскопа обладает противоударной защитой. Эти микроскопы имеют красивый дизайн, удобное управление и четкое изображение. Они являются идеальными инструментами в научно-исследовательской работе в области биологии, металлографии, минералогии, точного машиностроения, электроники, ЭСТ.

Металлографический микроскоп XJL-302

Особенности

  • План ахроматические объективы с большим рабочим расстоянием (без крышки стекла) и широкопольными окулярами, позволяет получить четкие снимки и широкую область обзора
  • Большая механическая платформа, диапазон передвижения: 204mmX204mm
  • Ручки коаксиальной грубой / точной фокусировки. Система с регулируемым напряженнием и до остановки, минимальный шаг точности фокусировки: 0,8 мкм
  • 6В 30Вт галогенная лампа, регулируемая яркость
  • Тринокуляр, можно переключаться на нормальное / поляризованное наблюдение, светло / темнопольное наблюдение. Можно направить 100% света, к бинокулярным окулярам или к верхнему порту

Специфика металлографического исследования заключается в необходимости наблюдать структуру поверхности непрозрачных тел. Поэтому микроскоп построен по схеме отражённого света, где имеется специальный осветитель, установленный со стороны объектива. Система призм и зеркал направляет свет на объект, далее свет отражается от непрозрачного объекта и направляется обратно в объектив. Современные прямые металлургические микроскопы характеризуются большим расстоянием между поверхностью столика и объективами и большим вертикальным ходом столика, что позволяет работать с крупными образцами. Максимальное расстояние может достигать десятки сантиметров. Но обычно в материаловедении используются инвертированные микроскопы, как не имеющие ограничения на размер образца (только на вес) и не требующие параллельности опорной и рабочей граней образца (в этом случае они совпадают).


Технические характеристики

  • Система наблюдения: наблюдение может быть легко поменяно между тринокуляром и окулярами. Наклон 30°, принимает план окуляры, план ахроматические объективы на бесконечность, фотокамеру адаптеры
  • Большая мобильная платформа для наблюдения больших образцов. Размер платформы: 280 х 270 мм
  • Диапазон перемещений платформы: 204 х 204 мм
  • Эпи-иллюминация: интегрированная полевая диафрагма, апертурная диафрагма, стекла Ж, Г, З и матовое. Анализатор и поляризатор, 12В, 50Вт галогеновая лампа, регулятор яркости
  • Проходящая система освещения: галогеновая лампа и полевая диафрагма
  • Система наблюдения темного поля (для XJL-302BD): высококачественные светло- и темно-польные объективы
  • Тринокулярная версия микроскопа для подсоединения CCD камеры и передачи изображения на компьютер

Металлографический ДИК микроскоп XJL-302



Стандартная конфигурация

Specification
Eyepiece
 Wide field WF10X(field number:Φ22mm) 
Infinity plan achromatic objective
XJL-302
£¨Equipped with bright field objectives£©
PL L5X/0.12  (Work distance):26.1 mm
PL L10X/0.25  (Work distance):20.2 mm
PL L20X/0.40  (Work distance):8.80 mm
PL L50X/0.70  (Work distance):3.68 mm
PL L80X/0.80  (Work distance):1.25 mm
XJL-302BD
£¨Equipped with bright & dark field objectives£©
PL L5X/0.12 BD  (Work distance):8.05mm
PL L10X/0.25 BD  (Work distance):7.86mm
PL L20X/0.40 BD  (Work distance):7.23mm
PL L50X/0.70 BD  (Work distance):1.75mm
PL L80X/0.80 BD (Work distance):1.25 mm  
Eyepieces tube
Trinocular inclined 30°, can be shot in 100% light flux.
Epi- illumination system
XJL-302
6V30W halogen and brightness enable control
XJL-302BD
12V50W halogen and brightness enable control
Integrated field diaphragm, aperture diaphragm and (Y,B,G, ground glass) switching device. Push-pull type analyzer and polarizer.
Focus system
Coaxial coarse/fine focus system, with tension adjustable and limit stopper, minimum division of fine focusing: 0.7μm.
Nosepiece
Quintuple (Backward ball bearing inner locating)
Stage
Mechanical stage£¬overall size:280mmX270mm£¬moving range: 204mmX204mm



 Optional accessories  
Name
Sort/Technique parameter
NO.
Objective
Dividing eyepiece(field number:Φ22mm)    0.10mm/Div
1122010
Objective
PL L40X/0.60 Work distance:3.98mm
Equipped with bright field objectives
2260140
PL L60X/0.7 Work distance:3.18mm
2260360
PL L100X/0.85 Work distance:0.4mm
2260111
PL L40X/0.60 BD Work distance:3.0mm
Equipped with bright & dark field objectives
2120140
PL L60X/0.70 BDWork distance:1.65mm
2120160
PL L100X/0.85 BDWork distance:0.4mm
2120111
Stage
Mechanical stage, overall size: 250mmX230mm Move range:154mmX154mm
040018
CCD Adapter
0.5X
812004
1X
812002
0.5X with dividing 0.1mm/Div
812003
Camera
DV-1 Video output£¨380/520 TV line£© USB output £¨0.42 M pixel£©
800001
DV-2 With USB output £¨1.3M/3.0M/5.0M/10.0M pixel£©
800003
DV-3 With video output£¨380/520 TV line£©
800005
Digital camera adapter
CANON(A570,A610,A620,A630,A640,A650,EF)  NIKON( F)
820001




Диаграмма



Физические размеры

Поиск

Контакты

Тел/факс: +7 (499) 393-38-60
Адрес: 107114, Москва, Сокольническая пл, 4А
Email: info@microscop.su