Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

















Популярные микроскопы









     Оптические микроскопы


     Электронные микроскопы









     Зондовые микроскопы


     Лазерные микроскопы

Металлографический ДИК микроскоп XJL-200

Металлографический ДИК микроскоп XJL-200

Специфика металлографического исследования заключается в необходимости наблюдать структуру поверхности непрозрачных тел. Поэтому микроскоп построен по схеме отражённого света, где имеется специальный осветитель, установленный со стороны объектива. Система призм и зеркал направляет свет на объект, далее свет отражается от непрозрачного объекта и направляется обратно в объектив. Современные прямые металлургические микроскопы характеризуются большим расстоянием между поверхностью столика и объективами и большим вертикальным ходом столика, что позволяет работать с крупными образцами. Максимальное расстояние может достигать десятки сантиметров. Но обычно в материаловедении используются инвертированные микроскопы, как не имеющие ограничения на размер образца (только на вес) и не требующие параллельности опорной и рабочей граней образца (в этом случае они совпадают).

Металлографический ДИК микроскоп XJL-200


XJL-200 DIC дифференциально интерференционный контрастный микроскоп подходит для наблюдения различных видов объектов. Он оснащен пропускающим осветителем и отражающей системом ДИК, план ахроматическими бесконечными объективами с большим рабочим расстоянием, широкоугольными окулярами и устройством поляризатора. Это обеспечивает высокую четкость и 3D-изображение, удобное удобное управление и т.д. Это идеальный инструмент в научно-исследовательской работе в области биологии, металлографии, минералогии, точного машиностроения, электроники и т.д.

  • Система наблюдения: тринокуляр может быть легко поменян между наблюдением и фотокамерой. Наклон 30°, принимает 5, 10, 20 план ахроматические объективы, фотокамеру и 0.5х, 1х адаптеры
  • Большая мобильная платформа для наблюдения больших образцов. Размер платформы: 280 х 270 мм
  • Диапазон перемещений платформы: 204 х 204 мм
  • Интегрированная система освещения позволяет переключаться между разными галогенными лампами. Освещение "Kohler illumination" достигается посредством настройки полевой и апертурной диафрагмы, поворачивая контролирующую пластину. Температура поверхности кожуха модуля с осветительными лампами уменьшается, делая работу с микроскопами более безопасной.
  • Дифференциально интерференционный контраст: Высококачественные ДИК объективы и оптическая система для наблюдения поверхности профиля и достижения 3D эффекта
  • Тринокулярная версия микроскопа для подсоединения CCD камеры и передачи изображения на компьютер

Металлографический ДИК микроскоп XJL-200



Стандартная конфигурация

Specification
Eyepiece
Wide field WF10X(Φ22mm)
Objective
Infinity plan achromatic objectives with long working distance(no cover glass)
LMPlan5X/0.12DIC Work distance:18.2 mm
LMPlan10X/0.25DIC Work distance:20.2 mm
LMPlan20X/0.35DIC Work distance:6.0 mm
PL L50X/0.70  Work distance:3.68 mm
DIC push-pull group
 Suitable for LMPlan5X?10X?20X DIC objective
Eyepiece tube
Inclination 45°and interpupillary distance:53~75mm
Focus system
Coaxial coarse/fine focus with tension adjustable and up stop,minimum division of fine focusing:2.0μm.
Nosepiece
Quintuple(backward ball beaing inner locating)
Stage
Mechanical stage,size:242mmX200mm,moving range: 30mmX30mm.
Rotundity and rotatable stage size:Ф130mm minimal clear aperture is less then Ф20mm
Illumination system
12V50W halogen lamp,brightness adjustable
Integrated field diaphragm ,aperture diaphragm and system polarizer
Equipped with frosted glass and yellow ,green and blue filters




Диаграмма

Поиск

Контакты

Тел/факс: +7 (499) 393-38-60
Адрес: 107114, Москва, Сокольническая пл, 4А
Email: info@microscop.su