Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

Популярные микроскопы

     Оптические микроскопы

     Электронные микроскопы

     Зондовые микроскопы

     Лазерные микроскопы

Металлографический ДИК микроскоп XJL-200

Специфика металлографического исследования заключается в необходимости наблюдать структуру поверхности непрозрачных тел. Поэтому микроскоп построен по схеме отражённого света, где имеется специальный осветитель, установленный со стороны объектива. Система призм и зеркал направляет свет на объект, далее свет отражается от непрозрачного объекта и направляется обратно в объектив. Современные прямые металлургические микроскопы характеризуются большим расстоянием между поверхностью столика и объективами и большим вертикальным ходом столика, что позволяет работать с крупными образцами. Максимальное расстояние может достигать десятки сантиметров. Но обычно в материаловедении используются инвертированные микроскопы, как не имеющие ограничения на размер образца (только на вес) и не требующие параллельности опорной и рабочей граней образца (в этом случае они совпадают).

XJL-200 DIC дифференциально интерференционный контрастный микроскоп подходит для наблюдения различных видов объектов. Он оснащен пропускающим осветителем и отражающей системом ДИК, план ахроматическими бесконечными объективами с большим рабочим расстоянием, широкоугольными окулярами и устройством поляризатора. Это обеспечивает высокую четкость и 3D-изображение, удобное удобное управление и т.д. Это идеальный инструмент в научно-исследовательской работе в области биологии, металлографии, минералогии, точного машиностроения, электроники и т.д.

• Система наблюдения: тринокуляр может быть легко поменян между наблюдением и фотокамерой. Наклон 30°, принимает 5, 10, 20 план ахроматические объективы, фотокамеру и 0.5х, 1х адаптеры
• Большая мобильная платформа для наблюдения больших образцов. Размер платформы: 280 х 270 мм
• Диапазон перемещений платформы: 204 х 204 мм
• Интегрированная система освещения позволяет переключаться между разными галогенными лампами. Освещение "Kohler illumination" достигается посредством настройки полевой и апертурной диафрагмы, поворачивая контролирующую пластину. Температура поверхности кожуха модуля с осветительными лампами уменьшается, делая работу с микроскопами более безопасной.
• Дифференциально интерференционный контраст: Высококачественные ДИК объективы и оптическая система для наблюдения поверхности профиля и достижения 3D эффекта
• Тринокулярная версия микроскопа для подсоединения CCD камеры и передачи изображения на компьютер