Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

















Популярные микроскопы









     Оптические микроскопы


     Электронные микроскопы









     Зондовые микроскопы


     Лазерные микроскопы

Металлографический микроскоп XJL-101

Металлографический  микроскоп XJL-101

XJL-101 серия отражающих металлографических микроскопов подходят для микроскопических наблюдений за поверхностями непрозрачных объектов. Они оснащены большими механическими платформами с большим ходом, отраженным вертикальным освещением и устройством поляризатора установленном в Тринокуляре. Микроскопы предоставляют ясное и высоко контрастное изображение, удобное управление и т.д. Они являются идеальным инструментом в научно-исследовательской работе в металлографии, минералогии, точном машиностроении, электронике и т.д. Они подходят для научных исследований, преподавания, демонстраций, в лабораториях в колледжах и фабриках

Металлографический микроскоп XJL-101

Особенности

  • План ахроматические объективы с большим рабочим расстоянием (без крышки стекла) и широкопольными окулярами, позволяет получить четкие снимки и широкую область обзора
  • Большая механическая платформа, диапазон передвижения: 154mmX154mm
  • Ручки коаксиальной грубой / точной фокусировки. Система с регулируемым напряженнием и до остановки, минимальный шаг точности фокусировки: 0.7 мкм
  • 6В 30Вт галогенная лампа, регулируемая яркость
  • Тринокуляр, можно переключаться на нормальное / поляризованное наблюдение, светло / темнопольное наблюдение. Можно направить 100% света, к бинокулярным окулярам или к верхнему порту

Специфика металлографического исследования заключается в необходимости наблюдать структуру поверхности непрозрачных тел. Поэтому микроскоп построен по схеме отражённого света, где имеется специальный осветитель, установленный со стороны объектива. Система призм и зеркал направляет свет на объект, далее свет отражается от непрозрачного объекта и направляется обратно в объектив. Современные прямые металлургические микроскопы характеризуются большим расстоянием между поверхностью столика и объективами и большим вертикальным ходом столика, что позволяет работать с крупными образцами. Максимальное расстояние может достигать десятки сантиметров. Но обычно в материаловедении используются инвертированные микроскопы, как не имеющие ограничения на размер образца (только на вес) и не требующие параллельности опорной и рабочей граней образца (в этом случае они совпадают).



Технические характеристики

  • Система наблюдения: наблюдение может быть легко поменяно между тринокуляром и окулярами. Наклон 30°, принимает план окуляры, план ахроматические объективы на бесконечность, фотокамеру, адаптеры. Поле окуляра 18 мм
  • Большая мобильная платформа для наблюдения больших образцов. Размер платформы: 250 х 230 мм
  • Диапазон перемещений платформы: 154 х 154 мм
  • Отражающая система освещения: Галогеновая 6В 20Вт лампа обеспечивает ясную и четкую картинку для светлопольных наблюдений, а также для наблюдений в поляризованном свете. Встроенный поляризатор, центрируемая полевая и ирисовая диафрагмы позволяют контролировать диапазон поля и фазовый контраст. Фильтр с желтой, зеленой, голубой и матовой вставками обеспечивает разные виды освещения для разных образцов.
  • Оптическая система: база микроскопа имеет форму буквы Т, что придает ей дополнительную устойчивость.
  • Тринокулярная версия микроскопа для подсоединения CCD камеры и передачи изображения на компьютер

Металлографический ДИК микроскоп XJL-101



Стандартная конфигурация

Model
XJL-101
XJL-101A
Eyepiece
 Wide field  WF10X(Φ18mm)
Objective
Plan achromatic objectives with long working distance (no cover glass) PL 5X/0.12
Plan achromatic objectives with long working distance (no cover glass) PL L10X/0.25 
Plan achromatic objectives with long working distance (no cover glass) PL L20X/0.40 
Plan achromatic objectives with long working distance (no cover glass) PL L40X/0.60
Plan achromatic objectives with long working distance (no cover glass) PL L80X/0.80
Eyepieces tube
Trinocular, Inclination of 30°, (Analyzer with field diaphragm to switch)
Vertical illumination unit
6V 20w halogen lamp, brightness control.
Vertical illumination with field diaphragm, aperture diaphragm and polarizer,(Y,B,G)filter and frosted filter
Focus system
Stage adjustable, Coaxial coarse/fine focus system, with tensional adjustable and up stop, minimum division of fine focusing: 0.7μm.
Nosepiece
Quintuple(Frontward ball bearing inner locating)
Stage
Three layer mechanical
Size:250mmX230mm,movingrange:154mmX154mm
Three layer mechanical
Size:280mmX270mm,movingrange:204mmX204mm


Optional accessories
Name
Sort/Technique parameter
NO.
Eyepiece
Wide field  WF16X(Φ11mm)
1051016
Dividing  10X(Φ18mm)  0.1mm/Div
1021010
Objective
Plan achromatic objectives with long working distance (no cover glass) PL L 50X/0.70
2250150
Plan achromatic objectives with long working distance (no cover glass) PL L 60X/0.75 (Spring)
2250160
Plan achromatic objectives with long working distance (no cover glass) PL L 100X/0.85 (Spring)
2250111
Plan achromatic objectives (no cover glass) PL 100X/1.25 (Spring, oil)
2240111
CCD adapter
0.4X
810001
0.5X
810004
1X
810002
0.5X with dividing 0.1mm/Div
810003
Camera
DV-1 With USB & video output
800001
DV-2 With USB output
800003
DV-3 With video output
800005
Photo unit
2.5X/4X Change over photograph attachment with 10X viewing eyepiece
840001
4X Focusing photograph attachment
840002
MD Adapter
840003
PK Adapter
840004
Digital camera adapter
CANON(A610,A620,A630,A640)
820001




Диаграмма



Физические размеры

Поиск

Контакты

Тел/факс: +7 (499) 393-38-60
Адрес: 107114, Москва, Сокольническая пл, 4А
Email: info@microscop.su