Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

Популярные микроскопы

     Оптические микроскопы

     Электронные микроскопы

     Зондовые микроскопы

     Лазерные микроскопы

Металлографический ДИК микроскоп MDIC-100

Специфика металлографического исследования заключается в необходимости наблюдать структуру поверхности непрозрачных тел. Поэтому микроскоп построен по схеме отражённого света, где имеется специальный осветитель, установленный со стороны объектива. Система призм и зеркал направляет свет на объект, далее свет отражается от непрозрачного объекта и направляется обратно в объектив. Современные прямые металлургические микроскопы характеризуются большим расстоянием между поверхностью столика и объективами и большим вертикальным ходом столика, что позволяет работать с крупными образцами. Максимальное расстояние может достигать десятки сантиметров. Но обычно в материаловедении используются инвертированные микроскопы, как не имеющие ограничения на размер образца (только на вес) и не требующие параллельности опорной и рабочей граней образца (в этом случае они совпадают).

MDIC-100 ДИК промышленный металлографический и измерительный микроскоп с дифференциально-интерференционным контрастом подходит для наблюдения структуры поверхности и размеров геометрических деталей. Он оснащен превосходной бесконечной оптической системой и модульным дизайн так, что система может последовательно расширяться и обновляться, добавляя поляризацию, дифференциально-интерференционный контраст и др. Триновуклярная/оптическая структура оптического модуля. Отраженное изображение с уменьшением яркости от визуального наблюдения, используя технологию интеграции цифровой фотографии и микроскического изображения представляют наблюдаемое интерференционное изображение с большим 3D эффектом. Этот модуль удобно подходит для наблюдения морфологии поверхности непрозрачных поверхностей. Микроскоп является идеальным оптическим инструментом для анализа и измерений в областях анализа высокоточных частей, интегральных схем, упаковочных материалов и др.

• Система наблюдения: тринокуляр может быть легко поменян между наблюдением и фотокамерой. Наклон 30°, принимает 5, 10, 20 план ахроматические объективы, фотокамеру и 0.5х, 1х адаптеры
• Размер базы: 300 х 250 мм
• Размер платформы: 160 х 140 мм
• Диапазон перемещений платформы: 35 х 30 мм
• Эпи-иллюминация: интегрированная полевая диафрагма, апертурная диафрагма, стекла Ж, Г, З и матовое. Анализатор и поляризатор, 12В, 50Вт галогеновая лампа, регулятор яркости
• Дифференциально интерференционный контраст: Высококачественные ДИК объективы
• Тринокулярная версия микроскопа для подсоединения CCD камеры и передачи изображения на компьютер