Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

















Популярные микроскопы









     Оптические микроскопы


     Электронные микроскопы









     Зондовые микроскопы


     Лазерные микроскопы

Металлографический ДИК микроскоп MDIC-100

Металлографический ДИК микроскоп MDIC-100

Специфика металлографического исследования заключается в необходимости наблюдать структуру поверхности непрозрачных тел. Поэтому микроскоп построен по схеме отражённого света, где имеется специальный осветитель, установленный со стороны объектива. Система призм и зеркал направляет свет на объект, далее свет отражается от непрозрачного объекта и направляется обратно в объектив. Современные прямые металлургические микроскопы характеризуются большим расстоянием между поверхностью столика и объективами и большим вертикальным ходом столика, что позволяет работать с крупными образцами. Максимальное расстояние может достигать десятки сантиметров. Но обычно в материаловедении используются инвертированные микроскопы, как не имеющие ограничения на размер образца (только на вес) и не требующие параллельности опорной и рабочей граней образца (в этом случае они совпадают).

Металлографический ДИК микроскоп MDIC-100


MDIC-100 ДИК промышленный металлографический и измерительный микроскоп с дифференциально-интерференционным контрастом подходит для наблюдения структуры поверхности и размеров геометрических деталей. Он оснащен превосходной бесконечной оптической системой и модульным дизайн так, что система может последовательно расширяться и обновляться, добавляя поляризацию, дифференциально-интерференционный контраст и др. Триновуклярная/оптическая структура оптического модуля. Отраженное изображение с уменьшением яркости от визуального наблюдения, используя технологию интеграции цифровой фотографии и микроскического изображения представляют наблюдаемое интерференционное изображение с большим 3D эффектом. Этот модуль удобно подходит для наблюдения морфологии поверхности непрозрачных поверхностей. Микроскоп является идеальным оптическим инструментом для анализа и измерений в областях анализа высокоточных частей, интегральных схем, упаковочных материалов и др.

  • Система наблюдения: тринокуляр может быть легко поменян между наблюдением и фотокамерой. Наклон 30°, принимает 5, 10, 20 план ахроматические объективы, фотокамеру и 0.5х, 1х адаптеры
  • Размер базы: 300 х 250 мм
  • Размер платформы: 160 х 140 мм
  • Диапазон перемещений платформы: 35 х 30 мм
  • Эпи-иллюминация: интегрированная полевая диафрагма, апертурная диафрагма, стекла Ж, Г, З и матовое. Анализатор и поляризатор, 12В, 50Вт галогеновая лампа, регулятор яркости
  • Дифференциально интерференционный контраст: Высококачественные ДИК объективы
  • Тринокулярная версия микроскопа для подсоединения CCD камеры и передачи изображения на компьютер



Стандартная конфигурация

Main parameters
Total magnification
100X (standard configure)
Mechanical tube length
Conjugate distance of objective
Eyepiece
Wide-field plan eyepiece
WF 10X
field of view number
Ф22mm
Eyepiece interface
Ф30mm
Parfocal distance
10mm
Trinocular
Observation angle of 30° with photography port,spectro rate 8:2(eyepiece:photography)
Strain-free plan achromatic objective
Magnification
Numerical aperture
Working distance (mm)
Thickness of cover glass (mm)
Remarks
10X
0.25
20.2
-
 
Analyzer
Insert type,can be switch freely,the direction of polarization has preset, no use for adjust
Polarizer
Insert type,can be switch freely,360°rotatable
DIC Slider
DIC slider matching 5X/10X/20X objective,horizontal adjustable
X-Y Stage
double layer mechanism stage, size:180 X 145mm,moving range:35X 30 mm(X-Y)
Vertical availability distance
Focus system available distance 133mm, observational specimen maximal thickness up to 130mm.
focus system
Coaxial coarse/fine focus system, minimum division of fine focusing: 2μm
Illumination
Coaxial illumination using high brightness white LED. Brightness adjustable
Main power sullpy
AC:85V~265V 50/60Hz,fuse specification:250V 3.0A
Accessory (optional)
Objective
20X strain-free plan achromatic objective,NA:0.40,working distance:8.0mm
Digital camera
130?300?500?1000mega pixels,with image analysis software.




Диаграмма



Физические размеры

Поиск

Контакты

Тел/факс: +7 (499) 393-38-60
Адрес: 107114, Москва, Сокольническая пл, 4А
Email: info@microscop.su