Оптический микроскоп, сканирующий микроскоп,
     электронный микроскоп, зондовый микроскоп

Популярные микроскопы

     Оптические микроскопы

     Электронные микроскопы

     Зондовые микроскопы

     Лазерные микроскопы

Металлографический ДИК микроскоп ICM-100 DIC

Специфика металлографического исследования заключается в необходимости наблюдать структуру поверхности непрозрачных тел. Поэтому микроскоп построен по схеме отражённого света, где имеется специальный осветитель, установленный со стороны объектива. Система призм и зеркал направляет свет на объект, далее свет отражается от непрозрачного объекта и направляется обратно в объектив. Современные прямые металлургические микроскопы характеризуются большим расстоянием между поверхностью столика и объективами и большим вертикальным ходом столика, что позволяет работать с крупными образцами. Максимальное расстояние может достигать десятки сантиметров. Но обычно в материаловедении используются инвертированные микроскопы, как не имеющие ограничения на размер образца (только на вес) и не требующие параллельности опорной и рабочей граней образца (в этом случае они совпадают).

ICM-100 ДИК промышленный металлографический и измерительный микроскоп подходят для наблюдения структуры поверхности и размеров геометрических деталей. Он оснащен превосходной оптической системой UIS и модульным дизайн так, что система может последовательно расширяться и обновляться, добавляя поляризацию, дифференциально-интерференционный контраст и др. Подъем вверх или опускание вниз оптической и осветительной блоков вдоль колонки опоры для регулировки расстояния от платформы до объективов, таким образом ползволяя использовать микроскоп для образцов разной толщины. Быстро и эффективно перемещая механическую платформу в объектив попадает необходимая для наблюдения область исследуемого образца. Движение регулятора фокусировки происходит таким образом, что роликовый подшипник перемещается по направлению треугольной направляющей, делая процесс движения гладким. Микроскоп является идеальным оптическим инструментом для анализа и измерений в областях анализа высокоточных частей, интегральных схем, упаковочных материалов и др.

• Размер базы: 300 х 250 мм
• Размер платформы: 160 х 140 мм
• Диапазон перемещений платформы: 35 х 30 мм
• Эпи-иллюминация: интегрированная полевая диафрагма, апертурная диафрагма, стекла Ж, Г, З и матовое. Анализатор и поляризатор, 12В, 50Вт галогеновая лампа, регулятор яркости
• Дифференциально интерференционный контраст: Высококачественные ДИК объективы
• Тринокулярная версия микроскопа для подсоединения CCD камеры и передачи изображения на компьютер